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電路板測試可編程高低溫濕熱老化試驗箱

更新時間:2020-07-07

簡要描述:

電路板測試可編程高低溫濕熱老化試驗箱適用于:電路板,PCB板,電子元器件,半導(dǎo)體芯片等產(chǎn)品模擬,高溫,低溫,濕熱環(huán)境下可靠性測試性能指標(biāo).

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電路板測試可編程高低溫濕熱老化試驗箱

一.電路板測試可編程高低溫濕熱老化試驗箱詳細(xì)參數(shù):

1.內(nèi)腔尺寸

400*50*800mm (××)

2.外形尺寸

850*1905*1600mm(××)

3.工作形式

低溫、高溫、濕熱按程序自動交變

4.溫度范圍

-40~+150℃

5.濕度范圍

20~98%

6.降溫速率

1~1.2℃ / min(空載下非線性)

7.升溫速率

2--3 ℃ / min (空載下非線性)

8.溫度控制精度

0.01

9.溫度均勻度

±1.5

10.溫度偏差

±1.5

11.濕度偏差

±2.5%RH

12.溫度交變范圍

-40℃~+150(任意溫度點可設(shè)定)

13.試驗條件

可執(zhí)行 3 試驗條件(高溫-低溫-濕熱可編程控制,多段設(shè)定。

14.噪音

65dB以內(nèi)

二.電路板測試可編程高低溫濕熱老化試驗箱結(jié)構(gòu):

試驗箱結(jié)構(gòu)

2.1、結(jié)構(gòu)方式

一體式結(jié)構(gòu)。

2.2、材料構(gòu)成

2.2.1 外壁材料:冷軋鋼板靜電雙面噴塑

2.2.2 內(nèi)壁材料:SUS304 不銹鋼板

2.2.3 絕熱材料:100mm 玻璃棉保溫層

2.3、結(jié)構(gòu)強度

試驗箱承重能力:100Kg(均勻負(fù)載)

2.4、大門

全開單翼型箱門一扇,帶門鎖。

門框兩道硅橡膠密封條,低溫室門框防結(jié)露電熱裝置

2.5、觀察窗

門上有 1 個多層觀察窗,低溫室門上觀察窗帶鍍膜加熱以防止其冷凝和結(jié)霜

2.6、冷凝出水孔

具有工作室冷凝水和機組凝結(jié)水的引出孔

2.7、引線孔

在設(shè)備左側(cè)設(shè)有一個φ5cm引線孔,方便測試樣品測試時通電通訊號之用(配硅膠塞和蓋子)

2.8、照明燈

工作室頂部設(shè)低壓照明燈,控制屏開關(guān)控制

       1、制冷機采用法國原裝泰康全封閉壓縮機。

  2、冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計。

  3、采用多翼式送風(fēng)機強力送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。

  4、風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計,風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn),并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快。

  5、升溫、降溫、系統(tǒng)*獨立可提高效率,降低測試成本,增長壽命,減低故障率。

  6、溫度控制采用全進口觸摸按鍵式儀表,操作設(shè)定簡單。

  7、資料及試驗條件輸入后,控制。、器具有鎖定功能,避免人為觸摸而改變溫度值。

    8、具有P.I.D自動演算的功能,可將溫度變化條件立即修正,使溫度控制更為精確穩(wěn)定。

    9、可選配打印機。

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